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FC系列X、r射线曝光时间计算仪及超声探伤专用计算仪

 FC系列射线、超声探伤专用计算仪,将现代计算技术与传统的探伤技术相结合,使该系列计算仪成为探伤工作的实用工具,现场生产的得力助手,受到探伤工作者的欢迎。

一、 FC系列计算仪产品介绍:

 众所周知,射线、超声探伤中,不少探伤工艺参数、探伤结果以及  射线拍片的曝光时间等,都需要经过大量复杂的数学公式运算才能求得,初中级探伤人员要在生产现场计算这些参数或结果,是一件很不容易的事情。针对这一问题开发了FC系列射线、超声探伤专用计算仪(共四个型号)。它使用高级的可编程计算仪,把复杂的计算公式内存于仪器之中,使用时只要根据仪器的提问,向仪器输入实际的探伤参数,仪器就能计算出相关的结果。这样能在生产现场准确迅速地计算探伤工艺参数和探伤结果,从而保证了探伤工作质量,提高了生产效率,并实现了数学运算的数字化和计算机化。
此系列计算仪的计算结果数字显示、准确可靠、携带容易、方便实用、性能价格比高。

二、 射线超声探伤专用计算仪型号及计算功能 :

  •   FC-I A型超声探伤专用计算仪:
     (1)、具有计算实心锻件探伤利用工件大平底确定探伤灵敏度应增益的dB数以及发现缺陷后计算缺
         陷平底孔当量值的计算功能;并具有计算空心筒形锻件外园径向、内壁径向探伤利用工件内外
         曲底面确定探伤灵敏度应增益的dB数以及发现缺陷后计算缺陷平底孔当量值的计算功能。
     (2)、具有平板对接焊缝、筒体环缝、筒体纵缝一、二次波法探伤对缺陷水平(弧长)和深度定位的
         计算功能。
     (3)、具有对不等厚焊缝探伤时,超声探伤面在不等厚焊缝削薄斜面上一、二次波法探伤对缺陷水平
         和深度定位的计算功能。


  •  FC-II A型射线探伤专用计算仪:
     (1)、具有计算射源至工件表面最小距离L1 min的计算功能。
     (2)、具有计算工件焊缝最少曝光次数N、一次曝光透照长度L3、底片有效评定长度Leff三个探伤工
         艺参数的功能 (透照方式包括纵缝、环缝、封头拼接焊缝单壁单影外照法;环缝双壁单影、双
         壁双影外照法以及环缝单壁单影偏心内照法。计算时透照厚度比K值选择为:纵缝、封头拼接
         焊缝,K=1.03;  环缝,K=1.1, 满足国家探伤标准中照相质量等级AB级的要求)。
     (3)、具有计算  射线Ir192透照曝光时间的功能。

  •  FC-II B型射线探伤专用计算仪:
         除具有FC-II A型的全部计算功能之外,  计算时还可以自行输入不同照相质量等级 (A级、AB
         级、B级) 的K值,更适合不同照相质量等级对N、L3、 Leff三个参数的计算要求。

   •  FC-III型 Ir192 (铱192)、Co60 (钴60)、Se75 (硒75)曝光时间计算仪:
     (1)、具有计算  射线Ir192透照曝光时间的功能。
     (2)、具有计算  射线Co60透照曝光时间的功能。
     (3)、具有计算  射线Se75透照曝光时间的功能。

三、 计算内容:

•   FC-I A型超声探伤专用计算仪计算内容: (见下表)

序号

需输入参数

:

F1

大平底法增益dB

T. A. F

 D:工件外径 (mm)

 T:工件厚度 (mm)

A:探伤起始灵敏度 (mm)

 F:探伤频率 (MHZ)

B:缺陷高于基准波dB

 H:缺陷深度 (mm)

F2

空心锻件、外探

曲底面法增益dB

D.T. A. F

F3

空心锻件、内探

D.T. A. F

F4

缺陷平底孔当量

B.A.H.T

F5

平、环焊缝

探头K最小值

A.B. L.T

A:焊缝上表面宽度 (mm)

B:焊缝下表面宽度 (mm)

 L:探头前沿距离 (mm)

 T:工件厚度 (mm)

 

 D:工件外径 (mm)

 T:工件厚度 (mm)

 L:缺陷水平距离 (mm)

 H:缺陷深度 (mm)

 K:探头K

 S:一次波探伤筒体内壁反

    射波深度 (mm)

 

F6

平、环焊缝

定位

水平定位(一次波)

H. K

F7

深度定位(一次波)

L. K

F8

水平定位(二次波)

H. K

F9

深度定位(二次波)

T. L. K

F10

探头K最大值

D.T

F11

内壁反射波深度

D.T. K

F12

弧长定位(一次波)

D. H. K

F13

深度定位(一次波)

D. H. K

F14

弧长定位(二次波)

D.T. K.S.H

F15

深度定位(二次波)

D.T. K.S.H

F16

探伤面在不等厚

焊缝削薄斜面上

 对缺陷定位

水平定位(一次波)

H. K. A

A:斜面与上表面夹角(锐角)

L:入射点至焊趾距离 (mm)

K:探头K

H:缺陷深度 (mm)

T:不等厚焊缝薄板厚度

   (mm)

F17

深度定位(一次波)

L. H. K. A

F18

水平定位(二次波)

H .K. A

F19

深度定位(二次波)

T.L.H.K.A

•  FC-II A型射线探伤专用计算仪计算内容: (见下表)

序号

需输入参数

(单位:mm)

F1

计算L最小值

L1 min (mm)

D. T. G

D: 射源焦点尺寸  T:工件厚度

G: 焊缝总余高

F2

纵缝、单壁单影

L3   (mm)

L1

D:工件外径

T:工件厚度

L1:射源至工件表

面距离

N:环缝最少曝光

    次数

L3:一次透照长度

Leff:底片有效评定

    长度

F:焦距 (射源至胶

   片距离)

R:工件外半径

Y:双壁双影透照、

   射源偏离焊缝

   边缘的距离

G:焊缝总余高

B:焊缝宽度

H:封头直边高度

S:即封头小曲率

   半径部位的L3

F3

Leff  (mm)

L1.T. G

F4

环缝外照、单壁单影

     N  ()

D.T. L1

F5

L3   (mm)

D.T. N

F6

Leff  (mm)

D.T. N

F7

环缝外照、双壁单影

N  ()

D.T. F

F8

Leff (L3)  (mm)

D.T. N

F9

环缝外照、双壁双影

N  ()

D. T

F10

Leff  (mm)

D. N

F11

偏移距离Y (mm

F. D. G. B

F12

环缝内照 (FR)

N  ()

D. L1. T

F13

Leff (L3)  (mm)

D.T. N

F14

环缝内照 (FR)

N  ()

D. L1. T

F15

L3  (mm)

D.T. N

F16

Leff  (mm)

D. L1. T. N

F17

封头拼缝、单壁外照

小曲率半径部位L3

D. T. L1

F18

小曲率半径部位N

 

F19

大曲率半径部位L3

 

F20

大曲率半径部位N

  D. H. S

F21

Ir192  (D20mm)

Ir192曝光时间

(时、分、秒)

E. F. D. T. A

详见使用说明书

F22

Ir192  (D20mm)

E. F. D. T. A


 
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